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絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流問(wèn)題解析
更新時(shí)間:2020-08-24 點(diǎn)擊次數(shù):1849
   絕緣電阻測(cè)試儀產(chǎn)品的絕緣性能是評(píng)價(jià)其絕緣好壞的重要標(biāo)志之一,它通過(guò)絕緣電阻反映出來(lái)。絕緣電阻數(shù)字化測(cè)量技術(shù)也得到了發(fā)展,其中壓比計(jì)電路就是其中一個(gè)較好測(cè)量電路,壓比計(jì)電路是由電壓橋路和測(cè)量橋路組成。這兩個(gè)橋路輸出的信號(hào)分別通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換再通過(guò)單片機(jī)處理直接轉(zhuǎn)換成數(shù)字值顯示。
  在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí),絕緣電阻測(cè)試儀的輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系呢?
  絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí),在測(cè)試過(guò)程的開始階段,絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電,并逐步將電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值。顯然,如果試品的電容量值很大,或高壓源內(nèi)阻很大,這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定(單位為秒)。請(qǐng)注意,給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過(guò)的電流,在測(cè)試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的。測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量,也加入了電容充電電流分量,這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。
  如額定電壓為5000V的測(cè)試儀,若其短路輸出電流為80μA,其內(nèi)阻為5000V/80μA=62MΩ;
  如試品容量為0.15μF,則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ·0.15μF≈9(秒)即在18秒時(shí)刻,電容上的充電電流仍有11.3μA。
  由此可見,僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA=442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ,則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了,而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變,即容量小,測(cè)試阻值大;容量大,測(cè)試阻值小。
  所以,為保障準(zhǔn)確的試值,應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測(cè)試儀。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA,要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀。

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